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半導體pct老化試驗箱

更新時間:2021-07-03

半導體pct老化試驗箱用途:測試其製品的耐厭性,氣密性。測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置於嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因汙染造成短路等。

溫馨提示:
本產品報價為參考價格,僅作支持網上展示用途。
產品具體規格、價格以我司銷售報價為主。

半導體pct老化試驗箱性能:

1測試環境條件42 測試方法 環境溫度為+25℃、相對濕度≤85%、

2溫度範圍 105℃ → +132℃ (控製點)

3溫度波動度 ±05℃

4溫度偏差 ±20℃

5濕度範圍 75% ~ 100 %RH  (控製點)

6濕度波動度 ±25 %RH

7濕度均勻度 ±50%

8壓力範圍 05~2㎏/㎝2 (005~0196 MPa) (控製點)

9升溫時間 常溫 → + 132℃ 35 min

10升壓時間 常壓 → + 2㎏/㎝2 40 min

半導體pct老化試驗箱

半導體pct老化試驗箱技術規格

<strong><strong><strong><strong>半導體pct老化試驗箱</strong></strong></strong></strong>

pct老化試驗箱的特點:  

1技術精密,具有自動加水功能並且在試驗過程中水位過低時自動加水200h。  

2試驗過程中圓幅內襯設計,可避免蒸汽過熱衝擊損失測品。  

3圓型門設計,能夠密封溫度與壓力安全鎖定控製,鎖牢固才能啟動試驗機,箱內壓力超壓時具有自動泄壓或手動泄壓。  

4計時安裝,LED數字型計時器,當鍋內溫度達到後計時器確保試驗完全,計時從表格1驅動。

5精準的壓力,溫度表隨時顯示鍋內壓力與溫度,精準壓力+02~20kg/cm2  

6試驗開始前使用真空泵抽真空,將機器原來的空氣抽出並過濾與至新鮮空氣一切完整開始試機。  

7箱內經過拋光處理經久耐用、美觀、不沾汙。  

8運轉時流水自動排出未飽和蒸汽已達到飽和。  

9異常原因及故障指示燈顯示,設置自動保護LIMIT安全。

<strong><strong><strong><strong>半導體pct老化試驗箱</strong></strong></strong></strong>

pct老化試驗箱試樣限製本試驗設備禁止:

    易燃、易爆、易揮發性物質試樣的試驗或儲存。腐蝕性物質試樣的試驗或儲存。強電磁發射源試樣的試驗或儲存。

半導體pct老化試驗箱用途:

    測試其製品的耐厭性,氣密性。測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置於嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因汙染造成短路等。

半導體pct老化試驗箱

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